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波长色散X射线荧光光谱仪测定生铁中硫、磷、硅元素含量
摘 要:
本文介绍采用X荧光光谱法测定生铁中的硫、磷、硅三种元素的含量,得到一种可靠、有效的取制样方法,探索出了使用波长色散X射线荧光光谱仪测定公司生铁中硫、磷、硅含量的最佳分析条件,为日常生铁分析工作提供了一套完善高效准确的光谱分析方法。
作 者:
  • 靳静
单 位:
    河北钢铁集团唐山钢铁集团有限责任公司技术中心
关键字:
  • X射线荧光光谱仪;生铁;硫、磷、硅的含量;
页 码:
    173-175
出 处:
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