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X射线数字成像无损检测技术在GIS设备维护检测中的应用分析
摘　要：
建立了一套X射线数字照相(CR)成像系统的实验平台,并通过模拟实验,从而对该技术在GIS设备检测中的可行性、实用性及有效性进行了分析及研究.
作　者：
  • 周烨斌
单　位：
    上海电力安装第二工程有限公司
关键字：
  • X射线;无损检测;GIS设备;缺陷检测;分析
页　码：
    347-349
出　处：
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