文章介绍了一种提高紧缩场下限频率的时域测试方法，在现有紧缩场测试频率1～40GHz的测试能力下，在不破坏原有系统硬件的情况下，利用现有的反射面系统，增加几台时域测试设备，可将紧缩场的下限测试频率由原来的截止频率1GHz扩展至0.3～1GHz，满足某些产品的测试要求，提高紧缩场的测试能力与测试精度，并且通过实验证明了该测试方法的可行性。