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基于马赫-曾德尔干涉仪的闪烁晶体折射率测量
摘 要:
提出了一种实时高精度获取闪烁晶体折射率的方法,通过面阵CCD相机获取闪烁晶体表面的干涉条纹图样,用阈值算法计算条纹图中暗亮条纹的宽度像素,快速测量出不同晶体干涉条纹移动量,从而计算其折射率。该方法有效地消除相干干扰信号和随机噪声,光路无需再调整。为了验证该方法的可靠性,实验测量了不同批次的BGO晶体和Ce:LYSO晶体样品。结果表明,该方法能够高精度、高效率地测量折射率,为PET探测器模块设计提供了一种可靠的晶体折射率测量方法;适用于可见光波段透明材料的折射率测量。
作 者:
  • 刘馨悦1;龙佳乐1;胡轶1;许彬1;杜梓浩1;邓定南2
单 位:
    1.五邑大学智能制造学部;2.嘉应学院物理与电子工程学院
关键字:
  • 晶体折射率;光学干涉测量;马赫-曾德尔干涉仪;
页 码:
    152-156
出 处:
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