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基于STM32单片机的简易电路特性测试仪
摘 要:
本系统是基于STM32单片机ADC检测的简易电路特性测试仪,用于检测三极管放大电路的基本工作特性,同时可以在电路发生故障时,判断电路故障的位置及原因。本系统以STM32单片机主控模块为核心,电路经DDS信号发生器模块产生所需的正弦波信号,经信号调理网络后进入三极管放大电路,同时在放大电路的输入端串联电阻、输出端并联电阻进行电路特性的检测,分别测量放大电路输入端和输出端信号的幅值及频率,经单片机处理后在屏幕上显示所需结果。本系统可测量放大电路的输入阻抗、输出阻抗、增益放大倍数、以及进行电路故障原因分析。
作 者:
  • 李申;陈康宁;汪帅;李寒;贾巍;
单 位:
    湖北文理学院汽车与交通工程学院
关键字:
  • STM32单片机;ADC检测;三极管放大;特性测试;参数测量;
页 码:
    59-60+91
出 处:
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