2025检测技术、智能系统与深度学习国际会议（ICDTISDL 2025）
会议时间：2025年01月19日
截稿时间：2025年01月04日
会议地点：中国成都
收录检索： 其它、 EI、 ISTP、 CNKI、 IEEE_Xplore、 Ei_Compendex、 Scopus、 CPCI、 Google、 Crossref
*大会简介
2025检测技术、智能系统与深度学习国际会议将拟定于2025中国成都召开。会议旨在将“检测技术、智能系统与深度学习”等学术领域的学者、专家、研发者、技术人员聚集到一个学术交流的平台，并且提供一个共享科研成果、前沿技术，了解学术发展趋势，扩大专业网络，拓宽研究思路，加强学术研究和探讨，促进学术成果产业化合作的平台。目的是为了探讨相关领域发展所面临的关键性挑战问题和研究方向，以期推动理论和技术在高校和企业的发展与应用，同时也为参会者建立业务或研究上的联络，以及寻找未来事业上的合作伙伴
*征稿主题
（以下主题包括但不限于）
主题一：检测技术
现代检测技术
集成化系统开发的技术基础
自动测试理论
测试计量技术及仪器
复杂系统建模与仿真
MATLAB系统分析语言及应用
多传感器融合理论与应用
最优估计与系统辨识
人工神经网络
在线检测及无损检测技术
模糊理论与应用
光电检测及计算机视觉检测技术
遗传算法与进化算法
控制网络与现场总线
微纳米检测
智能化仪表
遥感和遥测技术
建模与仿真
精密测试与传感器技术
主题二：智能系统
计算智能
专家系统
模糊集与系统
遗传算法
归纳与转导推理
智能行为
智能控制
智能数据分析
智能数据挖掘
智能故障诊断智能测量
智能网络
智能安防系统
智能信号处理
机器学习
自然语言处理
主题三:深度学习
认知架构
机器学习
自主计算
图像处理
信息检索和重用
机器学习
*论文出版
所有投稿都必须先经过2-3位专家审稿，评审录用后，文章将以会议论文集的形式出版，最终提交EI、CPCI、CNKI、Google检索。

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